X-200 XRF分析仪
X射线管：40 kV，Rh阳极（合金）或50 kV金阳极（地球化学，土 壤，RoHS等）。
检测速率：20 mm2 标准 SDD 和 DPP。125k cps，工作时间>90%
X-200 的速度和性能可与其他品牌的高端分析仪相媲美或优于其他品牌的高端分析仪。它使用高性能的 SDD 与高度优化的 X 射线管和探测器几何形状相结合。X-200 凭借其速度和分析性能以及轻巧、小巧的外形设计，正迅速成为废料处理和无损检测的首选。它适用于包括铝合金在内的每个合金系列。对于地球化学应用，它提供了用于环境、探路者、勘探和采矿的元素套件。其他可用的应用程序包括环境土壤、RoHS、贵金属、汽车催化剂、涂层和 SciAps Empirical 应用程序，供想要测试其他类型材料并生成自己的校准模型的用户使用。分析仪可以使用基本参数、康普顿归一化（EPA 方法 6200）或用户定义的经验校准进行工厂校准。
标准元素包
X-50 的标准元件包如下表所示。需要其他元素？问问吧！我们经常为特定应用添加或替换元素。
| 应用程序 | Beam 1 (40 kV) | Beam 2 (10 kV) | Beam 3(50 kV) |
| 矿石 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U （可添加元素） | Mg, Al, Si, P, S, K, Ca | Ag, Sn, Sb, Ba |
| 土壤 | Geo-Env Soil Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi（可添加元素） | Mg, Al, Si, P, S | Mg, Al, Si, P, S |
| 合金 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb | Mg, Al, Si, P, S | 不适用 |
| 贵金属 | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb | 不适用 | 不适用 |
RoHS和限用物质
五光束分析，确保所有元素和材料类型的终极性能
| 应用 | 50 kV | 40 kV | 30 kV | 15 kV |
| RoHS（聚合物） | Cd, Sn, Sb, Ba, Ag | Br, Hg, Pb, As, Cu, Ni, Se, Ti, Zn | Cr、Cl（无卤素） | |
| RoHS（合金） | Cd, Sn, Sb, Ba, Ag | Br, Hg, Pb, As, Cu, Ni, Se, Ti, Zn, Cr |
重量
3.3 磅（含电池）
激励源
用于合金测试的 6-40kV、200uA Rh 阳极，用于大多数其他应用的 6-50kV、200uA Au 阳极。
校准
基本参数。对于地球化学和环境。土壤应用程序，用户还可以选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验得出的校准。
尺寸
7.25 英寸 x 10.5 英寸 x 4.5 英寸
探测器
20毫米2硅漂移探测器（有效区域），135eV 分辨率 FWHM，5.95Mn K-α 线。
校准检查
内部快门也是 316 不锈钢的，用于全自动校准和能级验证。
权力
板载可充电锂离子电池，可充电在设备内部或与外部充电器，交流电源，热插拔功能（最大交换时间为 60 秒）。
X射线滤波器
6位滤光片轮，用于光束优化。
环境温度、范围
10°F 至 130°F，占空比为 25%。
显示
5 英寸彩色触摸屏智能手机型显示器 – PowerVR SGX540 3D 图形。
加工电子主机处理器
ARM Cortex -A9 双核 / 1.2GHz 内存：1GB DDR2 RAM，1GB NAND 结果 存储：8GB SD
安全
受密码保护的用法（用户级别）和内部设置（管理员）。
通信/数据传输
Wifi、蓝牙、USB。与大多数设备的连接，包括 SciAps Profile Builder PC 软件。
脉冲处理器
14 位 ADC，数字化速率为 80 MSPS，8K 通道 MCA USB 2.0，用于向主机处理器进行高速数据传输 在 FPGA 中实现数字滤波，用于高吞吐量脉冲处理 50nS – 24uS 峰值时间
监管
CE、RoHS、USFDA 注册、加拿大 RED 法案。
